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產品說明
產品介紹
T500S能更快、更可靠地測試光學元件,包括矽光子集成電路。
光譜特性化——快速、可靠和可重複
連續可調雷射是研發實驗室和生產車間必不可少的儀器。
它涵蓋了需要快速、連續波長調諧的各種應用。
T500S 在掃描時提供速度和高功率,此外在固定波長處具有出色的線寬。
產品優勢
測試高速矽光子集成電路(PICs)
集成矽光子學可以包括具有高對比度光譜的複雜光學元件。
例如,環形諧振器可能具有非常尖銳的特徵,因此難以特性化插入損耗。
除了插入損耗之外,某些設備還需要擴展測量回波損耗或偏振相關損耗,並具有相同的精度。
最後,還需要同時測試多個器件或單個器件的輸出,以加快 PIC 特性化。
為了測試此類設備,T500S 連續可調雷射可以與 EXFO 的組件測試平台 CTP10 聯合操作。
CTP10 具有高分辨率和高精度光譜測量,是一種集成解決方案,可充分利用 T500S 的全部潛力,以 200 nm/s 的掃描速度運行。T500S 還與 CT440 兼容,這是 EXFO 的模組型元件測試儀,以 100 nm/s 的速度運行。
行業領先的技術
具有高光譜純度的 14 dBm 輸出功率:雷射在整個調諧範圍內以 14 dBm 的標準光輸出功率表現出晶瑩剔透的光譜。
雷射腔消除了寬帶源自發發射 (SSE),而不會影響光功率。通過主動跳模控制在整個雷射掃描過程中保持高光譜純度,確保可靠且可重複的波長掃描。
高速可調性:雷射掃描速度為 100 nm/s,可配置可選的 200 nm/s 掃描速度。當速度至關重要時,T500S 可確保可重複且快速的測量。
逐步或連續掃描波長掃描:有兩種用戶模式,針對特定用途進行了優化:TUNE 或 SWEEP。
TUNE模式雷射控制可確保在任何波長下都具有出色的線寬或提供快速的“首選”波長調諧。
SWEEP模式可以在雷射的整個波長范圍內執行高速無跳模掃描。
領導行業的可調諧雷射
T500S 是 EXFO 連續可調諧雷射系列的一部分,該系列還包括 T200S,其波長涵蓋基本電信波長。
有關詳細信息,請參閱 T200S 規格表。
主要特點
T500S能更快、更可靠地測試光學元件,包括矽光子集成電路。
光譜特性化——快速、可靠和可重複
連續可調雷射是研發實驗室和生產車間必不可少的儀器。
它涵蓋了需要快速、連續波長調諧的各種應用。
T500S 在掃描時提供速度和高功率,此外在固定波長處具有出色的線寬。
產品優勢
測試高速矽光子集成電路(PICs)
集成矽光子學可以包括具有高對比度光譜的複雜光學元件。
例如,環形諧振器可能具有非常尖銳的特徵,因此難以特性化插入損耗。
除了插入損耗之外,某些設備還需要擴展測量回波損耗或偏振相關損耗,並具有相同的精度。
最後,還需要同時測試多個器件或單個器件的輸出,以加快 PIC 特性化。
為了測試此類設備,T500S 連續可調雷射可以與 EXFO 的組件測試平台 CTP10 聯合操作。
CTP10 具有高分辨率和高精度光譜測量,是一種集成解決方案,可充分利用 T500S 的全部潛力,以 200 nm/s 的掃描速度運行。T500S 還與 CT440 兼容,這是 EXFO 的模組型元件測試儀,以 100 nm/s 的速度運行。
行業領先的技術
具有高光譜純度的 14 dBm 輸出功率:雷射在整個調諧範圍內以 14 dBm 的標準光輸出功率表現出晶瑩剔透的光譜。
雷射腔消除了寬帶源自發發射 (SSE),而不會影響光功率。通過主動跳模控制在整個雷射掃描過程中保持高光譜純度,確保可靠且可重複的波長掃描。
高速可調性:雷射掃描速度為 100 nm/s,可配置可選的 200 nm/s 掃描速度。當速度至關重要時,T500S 可確保可重複且快速的測量。
逐步或連續掃描波長掃描:有兩種用戶模式,針對特定用途進行了優化:TUNE 或 SWEEP。
TUNE模式雷射控制可確保在任何波長下都具有出色的線寬或提供快速的“首選”波長調諧。
SWEEP模式可以在雷射的整個波長范圍內執行高速無跳模掃描。
領導行業的可調諧雷射
T500S 是 EXFO 連續可調諧雷射系列的一部分,該系列還包括 T200S,其波長涵蓋基本電信波長。
有關詳細信息,請參閱 T200S 規格表。
主要特點
- 雙向掃描速度高達 200 nm/s
- 14dBm 峰值光功率輸出
- 優秀的SSSER
- 六種型號,覆蓋 1240 nm – 1680 nm
- 波長調諧和連續掃描模式
- 主動模式無跳模操作
應用
- 被動光學元件
- 矽光子集成電路
- 用於研發的多用途可調諧雷射
型錄