如何降低 X 光輻射劑量而不犧牲影像品質？半導體檢測的新選擇 

— X-PECTER輻射濾片模組

X-PECTER 幫助工程師降低 80% 以上輻射劑量的同時，也維持高解析影像，打造更安全與穩定的樣品檢測流程。

對半導體封裝與測試品管工程師而言，X 光非破壞檢測（NDT）的影像清晰度往往決定產品良率；任何微小模糊都可能讓判讀出現誤差。

然而，降低輻射劑量與維持影像品質的平衡，一直是X 光非破壞檢測（NDT）最大的挑戰。使用傳統金屬濾片雖能減少劑量，卻常犧牲影像細節；然而，不使用濾片又容易造成樣品過曝風險。

巨研科技（GETECH）針對此痛點，推出 X-PECTER 輻射濾片模組。結合專利技術，在不影響成像的情況下，有效降低高達 88% 的輻射曝露，同時保留清晰無失真的影像。

真實數據，證明雙重效益

根據我們實際測試結果顯示：

• 未使用濾片 vs. X-PECTER（1.1mm）：影像品質相近，但輻射劑量由 23234.17 mGy 降至 3172.33 mGy，遮蔽率達 86.35%。

在遮蔽率相近的情況下，X-PECTER 影像解析度更優、細節更清晰。

• 銅片 vs. X-PECTER（5mm）：遮蔽率相似98.85% vs 97.60%，但 X-PECTER 影像細節更清晰。

以上數據證明：X-PECTER 能在降低劑量的同時，維持更好的影像解析度與穩定的樣品品質。

導入與相容性：即裝即用、彈性客製

X-PECTER 輻射濾片模組支援多種工業 X-ray 檢測設備，安裝簡便、即裝即用。客戶可依機台結構、檢測視野與樣品特性，選擇適合的厚度、尺寸與固定框架。

模組可直接安裝或放置於現有檢測系統中並立即啟用，讓 X-PECTER 成為半導體、電子封裝的非破壞性檢測中兼顧效率與品質的理想升級選擇。

立即導入 X-PECTER：同時降低輻射、提升判讀效率

X-PECTER 不只是輻射濾片，更是產線安全與品質穩定的關鍵升級。它讓工程師更安心地進行高精度檢測，同時滿足低輻射與高可靠度要求。

• 立即預約 Demo，體驗 X-PECTER 帶來的安全、清晰與高效檢測新標準。
• 了解更多：GETECH – X-PECTER 產品頁

常見問題（FAQ）

Q1：X-PECTER 會影響影像亮度或對比嗎？

A：X-PECTER 採用「電子碰撞吸收原理」，在不影響 X 光通過的前提下，有效吸收多餘能量、抑制散射，可達到最高 88% 輻射削減，同時維持清晰灰階與細節。
Q2：有不同厚度規格嗎？

A：提供多種厚度（1.1mm、2.25mm、2.75mm）可選，並可依每台設備需求客製尺寸與固定框架。