簡單設定與快速，精簡的分析流程，確保典型 ICP-MS 測量的到優異結果。
Agilent 7850 ICP質譜儀，讓您的ICP-MS分析擺脫常見的時間陷阱。具有氦模式碰撞室和半質量校正功能，可消除多原子和雙電荷離子干擾，使方法開發更簡單，並解決了浪費時間的樣品重新測量的常見原因。
