EXFO CTP10 - 光被動元件(無源光器件)測試平臺

CTP10

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產品說明

產品介紹

性能強大的光被動元件(無源光器件)測試平臺，適用於測試WDM器件和光子積體電路
EXFO CTP10是一種模組化測量平臺，可高效地全天候測試光被動元件(無源器件)。通過它，您能夠以前所未有的動態範圍、速度和解析度執行插損（IL）、偏振相關損耗（PDL）或回損（RL）測量。CTP10是測量高速WDM網路中的新型大埠數光器件和和光子積體電路（PIC）的理想設備。它可以結合T100S-HP系列掃頻可調諧雷射(鐳射)器，在幾秒鐘內完成IL-RL或IL-PDL測量。

產品優勢

下一代平臺和模組
EXFO CTP10平臺可安裝多達10個熱插拔模組，包括用於光譜鑒定的各種關鍵模組（IL-RL OPM2或IL-PDL模組）、波長控制模組（SCAN SYNC和FBC模組）以及檢測模組（OPMx模組）。這些完全集成的模組可以熱插拔，從而大大減少設置時間，並提供一個非常靈活、不斷發展的測試解決方案。

EXFO CTP10內置作業系統，可處理大量的資料。它還提供一個可擴展的架構，由最多8個測試站共用一個或多個可調諧雷射(鐳射)器，並添加一個次要主機，以測試100多個埠。

性能強勁
EXFO CTP10可進行非常迅速的掃頻IL RL或PDL光譜測量。它提供不折不扣的高性能，並在全速測試時達到一流的規格要求。OPMx免測距系列光檢測器能夠以100 nm/s的速率、1 pm的解析度進行掃描，測量的動態範圍超過70 dB，從而大幅提高製造和研發能力。OPMx檢測器還可以精確測量高達10 dB/pm（10000 dB/nm）的清晰光譜特徵，使EXFO CTP10成為未來測量波長可選擇開關（WSS）或環形諧振器等下一代器件的可靠工具。

GUI強大直觀
EXFO CTP10圍繞三個關鍵原則被開發出來：集成、性能和自動化。其內置軟體提供強大、直觀的GUI，從而簡化測試配置和測量過程。EXFO CTP10可無縫地控制外接可調諧雷射(鐳射)器，讓您專注於真正重要的事情：測量和分析資料。GUI集成了一整套工具以分析通帶（如WDM或WSS）和阻帶濾波器。

主要特點