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產品說明
產品介紹
緊湊的測試儀,用於快速、準確地鑒定被動光元件(無源光器件)
EXFO的CT440可讓您快速而準確地測試被動光元件(無源光器件)(例如MUX / DEMUX,濾波器,分離器)和模組(ROADM,WSS)。更重要的是,該裝置涵蓋了從1240到1680 nm的光譜範圍,可以在整個電信頻段上進行測量。使用PDL選件,EXFO CT440可以同時測量插入損耗和偏振相關損耗。
產品優勢
全頻帶掃描
EXFO CT440(SMF型號)可以在1240至1680 nm之間工作,並與EXFO的T100S-HP系列可調雷射(鐳射)完全相容。當使用多個TLS時,EXFO CT440可以自動在雷射(鐳射)之間切換,以實現無縫的全頻帶測量。與DUT的單連接意味著不需要外部開關。
快速插入損耗測量
EXFO CT440具有高速電子技術和光學干涉測量技術的獨特結合。四個集成的檢測器使您可以在一次雷射(鐳射)掃描中同時測量動態範圍為65 dB的四個通道。此外,在任何掃描速度下都可實現±5 pm的波長精度,因此在測量速度和精度之間沒有任何抵觸。
準確的插入損耗測量
EXFO CT440是一種經濟高效的解決方案,不會影響性能。憑藉其監控光電探測器,可調的採樣解析度,出色的波長精度和內置的波長計,當與可調雷射(鐳射)源和PC相連時,它可以在一個盒子中提供準確測量所需的一切。
主要特點
應用
緊湊的測試儀,用於快速、準確地鑒定被動光元件(無源光器件)
EXFO的CT440可讓您快速而準確地測試被動光元件(無源光器件)(例如MUX / DEMUX,濾波器,分離器)和模組(ROADM,WSS)。更重要的是,該裝置涵蓋了從1240到1680 nm的光譜範圍,可以在整個電信頻段上進行測量。使用PDL選件,EXFO CT440可以同時測量插入損耗和偏振相關損耗。
產品優勢
全頻帶掃描
EXFO CT440(SMF型號)可以在1240至1680 nm之間工作,並與EXFO的T100S-HP系列可調雷射(鐳射)完全相容。當使用多個TLS時,EXFO CT440可以自動在雷射(鐳射)之間切換,以實現無縫的全頻帶測量。與DUT的單連接意味著不需要外部開關。
快速插入損耗測量
EXFO CT440具有高速電子技術和光學干涉測量技術的獨特結合。四個集成的檢測器使您可以在一次雷射(鐳射)掃描中同時測量動態範圍為65 dB的四個通道。此外,在任何掃描速度下都可實現±5 pm的波長精度,因此在測量速度和精度之間沒有任何抵觸。
準確的插入損耗測量
EXFO CT440是一種經濟高效的解決方案,不會影響性能。憑藉其監控光電探測器,可調的採樣解析度,出色的波長精度和內置的波長計,當與可調雷射(鐳射)源和PC相連時,它可以在一個盒子中提供準確測量所需的一切。
主要特點
- 快速測量變化函數
- 波長範圍為1240-1680 nm(SMF型號)
- PM和PDL選件
- 波長解析度為1-250 pm
- 波長精度為±5 pm
- 單次掃描的動態範圍為65 dB
- 最多可結合4個可調諧雷射(鐳射)器(SMF型號)
- 配備四個內部檢測器,可通過同步進行擴展
應用
- 光子積體電路(PIC)測試
- 波長選擇開關測試
- 濾光片測試
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